产物详细
Chroma 58173 是一组全新独特的量测 LED 全光 通量之自动化测试系统。在LED的裸晶与晶粒测 试生产线中，常见使用部份光通量来取代全光通 量之量测方式 (见图1)。然而，传统的方式存在 一些缺点，例如：准确度较低、讯噪比较低、测 试时间较长等，以致于导入LED 的裸晶与晶粒生 产线时会发生问题。
致茂研发出一种全新、高速且高精确度之 LED 全光通量之量测方式(见图2)。 这种创新的量测 方式不仅比传统方式收集更多的 LED 部分光通 量，也明显的改善提升了量测精确度。
在光学量测方面，主波长、峰波长、色温等均可 透过致茂独特的光学设计与元件取得精确且稳定 快速之数据；在机构方面，58173 搭载一个6吋 的晶片载盘与校正基座，提供使用者一个完整 的校正与测试平台；在电性测试方面，58173 则 具备完整之电源量测单元，无论顺向电压、漏电 流、逆向崩溃电压等 LED 电性特性，均可于一 次满足使用者的测试需求。
主要特色
●提供全方位电性测试 (200V/2A) ，可满足HV及HP测试
●颁丑谤辞尘补大面积光侦测器(量测角度可达128度)
●半自动精密LED wafer/chip点测设备
●特制Edge Sensor具有点测针压稳定，无疲乏与针压变动问题
●机械视觉定位系统，缩短人工操作时间
●自动抽测功能
●弹性调整的软体操作界面
●快速芯片扫描系统
●自动破片扫描演算法
●遮光罩设计，杜绝背景光干扰
●即时显示点测资料分布图
●完善的量产测试统计报表及分析工具
设备
●半自动 LED wafer/chip 点测设备
●漏电流测试模组
●电源量测单元
●光学测试模组
●ESD 测试模组 (选配)
选购附件
| 模型 | 介绍 |
| 58173 | LED 全光通量自动测试系统 |
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